2012年8月8日 星期三

LED導線架微小缺料解決方案


一、緣由:
LED導線架之膠體細微缺料與射不飽問題,持續帶給LED導線架廠商在產出品質與品檢人力上的困擾。歐壹科技運用其AOI專業,再度研發出能協助客戶檢出膠體細微缺料與射不飽的解決方案。

二、目的 :
本文就歐壹科技之LED導線架檢測設備,針對膠壁細微缺料與射不飽之解決方案,做簡單說明。

三、光源示意圖:
藉由光源角度與光源亮度和取像裝置之搭配,取得細微缺料或射不飽區域與週邊區域之灰階差異,以檢出不良品。

四、缺料微觀示意圖:

五、結論:
歐壹針對微細缺料與射不飽問題所推出的解決方案,不僅幫廠商解決了腦人的品質問題,更大大的降低了生產成本與客訴問題。


若對敝司產品有興趣更進一步了解,歡迎您電話或email連絡!
電話:(02)-8665-0720
Email:
jack_chang@eevision.com.tw
eevision.corp@gmail.com
Web:http://www.eevision.com.tw/front/bin/home.phtml


2012年8月1日 星期三

刮傷專題分享


“刮傷”為各種產品瑕疵檢測最重要項目!!!

※LED封裝、散熱片及鍵帽沖壓等檢測系統皆有共同問題點→刮傷

※刮傷對散熱之影響
刮傷為硬物所造成之表面深痕與突點,其凹凸剖面會影響散熱造成散熱不良。
※系統與目檢判斷經驗分享
系統瑕疵檢出規格:2*10pixel、灰階差20以上

→刮傷為瑕疵檢測最重要項目!!!
→歐壹長期致力研究此領域,各系統皆可檢出!!! 


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LED晶粒計數系統

LED晶粒計數系統,主要目的為計算檢測區域內LED晶粒的總數,以確保出貨數量之正確性。


歐壹科技不斷精進LED晶粒計數系統,此次精進的目標:
1. 無人化
2. 系統全自動化
3. 提升計數準確度
4. 資料庫連線功能

以下是目前提升相機解析度後與原始影像的比較


此影像加上軟體的精進,準確度可以提升到+/-0.03%
全自動化計數系統進而達到無人化。


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